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| 2006年05月01日 中国糖尿病杂志 2006 Vol.14 No.1 P.43-46 17 （重庆）为了寻找预测2型糖尿病(T2DM)和糖耐量减低(IGT)发生的最佳空腹血糖受损(IFG)下限切点及其对代谢状态的影响。研究者采用横断面调查的方法对重庆局部地区3189例既往无糖尿病史的自然人群的空腹血糖(FPG)进行ROC分析，绘制ROC曲线，并进行糖脂代谢调查和分析。结果预测T2DM和IGT发生的最佳IFG下限切点ROC曲线下面积分别为0.899和0.728.用FPG来预测T2DM和IGT，其灵敏度及特异度均较好的点分别为5.6 mmol/L和5.2mmol/L。在负荷后2 h血糖(2hPG)＜7.8 mmol/L人群中，与FPG＜5.6 mmol/L亚组比较，FPG5.6～6.1 mmol/L亚组肥胖、高血压、代谢综合征和胰岛素抵抗的发生率分别增加了53%、54%、60%和126%。IFG下限切点下调前后，糖调节受损(IGR)各亚组组分的代谢特征不改变。可见将5.6mmol/L作为IFG的下限值适用于中国人群。 |
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