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| 2005年07月05日 中华物理医学与康复杂志2005 Vol.27 No.4 P.193-196 7 （北京）为了观察电磁脉冲(EMP)对海马神经元的损伤效应及其对[2+]i的影响，以深入探讨EMP致脑损伤的机制，研究者以EMP辐射条件为6×104V/m，脉冲上升时间为20 ns，脉宽为30 μs，频率为2.5脉冲/min，作用2 min。原代培养的海马神经元经EMP辐射后，采用MTT法对细胞活力进行测定；FACS法检测细胞凋亡和坏死；Fluo-3-AM荧光探针负载、激光共聚焦显微镜扫描测定神经元胞内游离钙离子浓度，即[2+]i。结果细胞被EMP辐射后0～6 h活力明显下降(P<0.05)，12 h开始回升，24 h基本接近正常水平；EMP辐射后0～12 h细胞凋亡率显著升高，坏死也有增加,EMP辐射后即刻引起神经元内的Ca2+荧光强度明显增加。可见 EMP致海马神经元活力下降、凋亡增加、胞内钙超载。 |
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